Abstract

Images of semiconductor "dot-in-rods" and their small clusters are studied by measuring the second-order correlation function with a spatially resolving intensified CCD camera. This measurement allows one to distinguish between a single dot and a cluster and, to a certain extent, to estimate the number of dots in a cluster. A more advanced measurement is proposed, based on higher-order correlations, enabling more accurate determination of the number of dots in a small cluster. Nonclassical features of the light emitted by such a cluster are analyzed. © 2014 Optical Society of America.

Autore Pugliese

• Carbone Luigi

Tutti gli autori

• Shcherbina O.A.; Shcherbina G.A.; Manceau M.; Vezzoli S.; Carbone L.; De Vittorio M.; Bramati A.; Giacobino E.; Chekhova M.V.; Leuchs G.

Titolo volume/Rivista

Optics letters

Anno di pubblicazione

2014

ISSN

1539-4794

ISBN

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