Abstract

The perturbation behaviour of Ohmic and Schottky CdTe detectors under strong optical pulses is investigated. To this scope, the electric field profiles and the induced charge transients are measured, thus simultaneously addressing fixed and free charges properties, interrelated by one-carrier trapping. The results elucidate the different roles of the contacts and deep levels, both under dark and strong irradiation conditions, and pave the way for the improvement of detector performance control under high X-ray fluxes.

Autore Pugliese

• Cola Adriano , Farella Isabella

Tutti gli autori

• Cola A.; Farella I.

Titolo volume/Rivista

Applied physics letters

Anno di pubblicazione

2014

ISSN

0003-6951

ISBN

Non Disponibile

Numero di citazioni Wos

Nessuna citazione

Ultimo Aggiornamento Citazioni

Non Disponibile

Numero di citazioni Scopus

Non Disponibile

Ultimo Aggiornamento Citazioni

Non Disponibile

Settori ERC

Non Disponibile

Codici ASJC

Non Disponibile