Measurements of deflection and residual stress in thin films utilizing coherent light projection/reflection moiré interferometry

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Abstract

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Autore Pugliese

Tutti gli autori

  • C. A. SCIAMMARELLA , BOCCACCIO A , L. LAMBERTI , C. PAPPALETTERE , A. RIZZO , D. VALERINI

Titolo volume/Rivista

EXPERIMENTAL MECHANICS

Anno di pubblicazione

2013

ISSN

0014-4851

ISBN

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