Materiale di riferimento per l'analisi quantitativa di elementi su scala nanometrica, e procedimento di calibrazione per la micro-analisi a raggi x o la spettroscopia elettronica, in microscopia elettronica a trasmissione

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Abstract

Non Disponibile

Classe Tecnologica

G - Physics

Patent Office

Ufficio Italiano Brevetti e Marchi

Numero Deposito

ITARM2009A000233

Anno Deposito

2009

Anno Concessione

2012

Inventori Pugliesi

  • Alvisi Marco

Tutti gli inventori

  • Marco Alvisi
  • Michele Nacucchi

Titolari pugliesi

Tutti i titolari

  • ENEA - AGENZIA NAZIONALE PER LE NUOVE TECNOLOGIE L ENERGIA E LO SVILUPPO ECONOMICO SOSTENIBILE