Abstract

During recent decades innovative nanomaterials have been extensively studied, aiming at both investigating the structure-property relationship and discovering new properties, in order to achieve relevant improvements in current state-of-the art materials. Lately, controlled growth and/or assembly of nanostructures into hierarchical and complex architectures have played a key role in engineering novel functionalized materials. Since the structural characterization of such materials is a fundamental step, here we discuss X-ray scattering/diffraction techniques to analyze inorganic nanomaterials under different conditions: dispersed in solutions, dried in powders, embedded in matrix, and deposited onto surfaces or underneath them.

Autore Pugliese

• Giannini Cinzia , Altamura Davide , Siliqi Dritan , De Caro Liberato , Ladisa Massimo , Sibillano Teresa

Tutti gli autori

• Giannini C.; Ladisa M.; Altamura D.; Siliqi D.; Sibillano T.; De Caro L.

Titolo volume/Rivista

Crystals

Anno di pubblicazione

2016

ISSN

2073-4352

ISBN

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