Abstract

The polarization scan of both pumps in a noncollinear second-harmonic experiment is shown to be a powerful tool for identifying the different components of plane misalignment angles in a nonlinear crystal. Here, we report an optical axis misalignment as small as 1 degrees, in a 380 mu m thick 4H-SiC sample, by means of 130 fs pulsed laser of 830 nm wavelength. The optical axis misalignment is confirmed by the x-ray structural analysis. (C) 2013 Optical Society of America

Autore Pugliese

• Passaseo Adriana Grazia , Tasco Vittorianna

Tutti gli autori

• Bovino F. A.; Tasco V.; Passaseo A.; Larciprete M. C.; Belardini A.; Sibilia C.

Titolo volume/Rivista

Journal of the Optical Society of America. B, Optical physics

Anno di pubblicazione

2014

ISSN

0740-3224

ISBN

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