Automatic identification of alpha-helices in X-ray diffraction patterns

Abstract

A method is presented to determine the helix orientation starting from X ray diffraction data. Our method is based on the periodicity properties of alpha helix and on the analysis of the properties of the corresponding Patterson function, obtained directly from raw crystallographic intensities. Knowledge of helix orientation is a useful information within the structure solution process of proteins. © 2011 IEEE.


Tutti gli autori

  • Mazzone A.; Dibenedetto D.; Nico G.; Cascarano G.; Caliandro R.

Titolo volume/Rivista

Proceedings of ... IEEE International Conference on Computer, Control and Communication


Anno di pubblicazione

2011

ISSN

2070-2523

ISBN

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