Automatic identification of alpha-helices in X-ray diffraction patterns
Abstract
A method is presented to determine the helix orientation starting from X ray diffraction data. Our method is based on the periodicity properties of alpha helix and on the analysis of the properties of the corresponding Patterson function, obtained directly from raw crystallographic intensities. Knowledge of helix orientation is a useful information within the structure solution process of proteins. © 2011 IEEE.
Autore Pugliese
Tutti gli autori
-
Mazzone A.; Dibenedetto D.; Nico G.; Cascarano G.; Caliandro R.
Titolo volume/Rivista
Proceedings of ... IEEE International Conference on Computer, Control and Communication
Anno di pubblicazione
2011
ISSN
2070-2523
ISBN
Non Disponibile
Numero di citazioni Wos
Nessuna citazione
Ultimo Aggiornamento Citazioni
Non Disponibile
Numero di citazioni Scopus
Non Disponibile
Ultimo Aggiornamento Citazioni
Non Disponibile
Settori ERC
Non Disponibile
Codici ASJC
Non Disponibile
Condividi questo sito sui social