Applications of ellipsometry in nanoscale science: Needs, status, achievements and future challenges

Torna indietro

Abstract

Non Disponibile

Autore Pugliese

Tutti gli autori

  • M. Losurdo

Titolo volume/Rivista

Thin solid films

Anno di pubblicazione

2011

ISSN

0040-6090

ISBN

Non Disponibile

Numero di citazioni Wos

Nessuna citazione

Ultimo Aggiornamento Citazioni

Non Disponibile

Numero di citazioni Scopus

Non Disponibile

Ultimo Aggiornamento Citazioni

Non Disponibile

Settori ERC

Non Disponibile

Codici ASJC

Non Disponibile