Advances in the measurement of surfaces properties utilizing illumination at angles beyond total reflection
Abstract
In preceding papers the authors have employed evanescent illumination to perform measurement of depth information on rough surfaces. In the developments presented in this paper new experimental evidence has been gathered. This information provides additional elements that help to formulate a more complete model of the phenomena taking place. The carried out measurements when confronted with independently gather information support the formulated model.
Autore Pugliese
Tutti gli autori
-
Sciammarella FM , Sciammarella CA , Lamberti L
Titolo volume/Rivista
Non Disponibile
Anno di pubblicazione
2011
ISSN
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ISBN
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Numero di citazioni Wos
Nessuna citazione
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