Wideband measurement method for prognosis of soldering failure on electronic boards
Abstract
Non Disponibile
Autore Pugliese
Tutti gli autori
-
Adamo F , Andria G , Di Nisio A , Giaquinto N , Scarano V L , Spadavecchia M
Titolo volume/Rivista
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Anno di pubblicazione
2014
ISSN
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ISBN
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Numero di citazioni Wos
Nessuna citazione
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Ultimo Aggiornamento Citazioni
2017-04-23 03:20:56
Settori ERC
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Codici ASJC
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